Proj
J-GLOBAL ID：202104002986543527
Research Project code：07051319
状態選別XAFS分光
状態選別XAFS分光
National award number：JPMJPR043E
Study period：2004 - 2007
Organization (1)：
Principal investigator：
(
, 多元物質科学研究所, 助手 )
DOI：
https://doi.org/10.52926/JPMJPR043E
Research overview：
X線の発光と吸収には密接な関連があり吸収端近傍の励起に伴う発光からは、通常の吸収法では測定できない「寿命幅に制限されない、状態別のX線吸収微細構造(XAFS)-状態選別XAFS」が導出できます。この分光法の意義は広く認められていますが、検出感度の低さから、なお実用には至っていません。本研究は、世界最高の感度をもったX線発光分光器を新規に開発し、状態選別XAFS分光の実用化に挑むものです。
Terms in the title (3)：
Terms in the title
Keywords automatically extracted from the title.
,
,
Research program：
＞
＞
Parent Research Project：
構造機能と計測分析
Organization with control over the research：
Japan Science and Technology Agency
