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J-GLOBAL ID：202104003300651759
Research Project code：17942998
半導体を基軸としたテラヘルツ光科学と応用展開
半導体を基軸としたテラヘルツ光科学と応用展開
National award number：JPMJMI17F2
Study period：2017 - 2021
Organization (1)：
Principal investigator：
(
, 理学研究科, 教授 )
DOI：
https://doi.org/10.52926/JPMJMI17F2
Research overview：
CRESTでは、平成23年当時最高のテラヘルツ帯の電場強度を達成し、テラヘルツ非線形光学の分野を拓きました。また、波長限界の1/30の空間分解能とビデオレートの高速計測を同時に実現し、高分解能かつリアルタイムでの生細胞観察に成功しました。その後、CRESTで培った光レーザー励起のテラヘルツ技術を半導体テラヘルツ技術へと展開し、半導体光源・検出器を用いたイメージング装置を開発するなどの活動を通じ、ACCELでのPOC達成に向けての開発指針を得ています。 ACCELでは、半導体光源のアレイ化、モジュール化による出力改善や、検出器への位相検出技術付加による感度改善、高速イメージングのためのアレイ化、モジュール化を行い、光源・検出器・低損失最適光学系・制御系・解析ソフトウエアからなる透視イメージング基本システムを構築することにより、既存技術に比べて高分解能、高速、安全なボディスキャナー、非破壊検査装置などの実現をはかります。これによって、交通機関などの公共の場でのセキュリティの強化、工場などで生産される製品の安全性の向上など、安全・安心社会の実現を目指します。
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Research program：
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Organization with control over the research：
Japan Science and Technology Agency
