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J-GLOBAL ID：202104004395965638
Research Project code：16814237
X線小角散乱-CT法と計算科学の融合による可視化手法の開発
X線小角散乱-CT法と計算科学の融合による可視化手法の開発
National award number：JPMJPR1672
Study period：2016 - 2019
Organization (1)：
Principal investigator：
(
, 化学研究所, 助教 )
DOI：
https://doi.org/10.52926/JPMJPR1672
Research overview：
ソフトマテリアルにおけるナノスケールの構造解析手法として、X線小角散乱法(SAXS法)-コンピュータートモグラフィー(CT法)による可視化手法の開発が進められていますが、現状での用途は非常に限定されています。そこで本研究では、X線小角散乱-コンピュータートモグラフィー法と計算科学を融合することにより、あらゆるソフトマテリアルにおけるナノスケールの構造情報を可視化する手法の開発を目指します。
Terms in the title (6)：
Terms in the title
Keywords automatically extracted from the title.
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Research program：
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Parent Research Project：
計測技術と高度情報処理の融合によるインテリジェント計測・解析手法の開発と応用
Organization with control over the research：
Japan Science and Technology Agency
