TEMトモグラフィー技術を用いたナノスケール・イメージベース力学解析手法の確立

Study period：2007 - 2007
Organization (1)：
Principal investigator： ( , 理工学部マイクロ機械システム工学科, 教授 )
Research overview：

X線CTによるマイクロメートルの分解能を持つイメージベース力学解析手法が確立され、多孔質材料や生体分野に普及しつつあるが、本研究では1ナノメートルの高分解能を持つTEMトモグラフィーに基づき、ナノ粒子分散型複合材料を対象としたモルフォロジー分析手法・数値モデリング手法・マルチスケール応力解析手法を確立する。

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Research program：＞＞＞＞
Organization with control over the research：

Japan Science and Technology Agency

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