Proj
J-GLOBAL ID:202104007544268960  Research Project code:21447495

SiCとダイヤモンド直接接合技術による大口径・高熱伝導率GaN-on-ダイヤモンド基板の研究開発

SiCとダイヤモンド直接接合技術による大口径・高熱伝導率GaN-on-ダイヤモンド基板の研究開発
National award number:JPMJTM20Q7
Study period:2021 - 2021
Organization (1):
Principal investigator: ( , 大学院工学研究科, 准教授 )
DOI: https://doi.org/10.52926/JPMJTM20Q7
Research overview:
コロナ禍による消費電力の増加で、省エネに期待できるGaNパワー素子の需要が高まっている中、SiC基板上に形成したGaN素子では、自己発熱による出力の低下と信頼性の劣化が大きな課題である。本研究開発において、これまでの予備検討に基づき、GaN層転写技術(Si基板からGaN/SiC構造を剥離し、SiC面をダイヤモンドと直接接合する技術)を開発し、最高放熱性GaNパワー素子と素子作製に必要な高耐熱性接合界面を実現する。熱伝導性に優れるSiCを介してGaNとダイヤモンドを接合することにより、競合技術を凌ぐ高放熱性GaN/ダイヤモンド基板作製技術を確立し、基板と素子メーカーとの共同研究につながる。
Research program:
Organization with control over the research:
Japan Science and Technology Agency

Return to Previous Page