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J-GLOBAL ID：202104007647300056  Research Project code：15658818

ダイオード特性を有する抵抗変化型不揮発性メモリの高エンデュランス・高保持特性の探索試験

ダイオード特性を有する抵抗変化型不揮発性メモリの高エンデュランス・高保持特性の探索試験
National award number：JPMJTM15G6
Study period：2015 - 2016
Organization (1)：
東京農工大学

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Research responsibility：
須田 良幸

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(
東京農工大学

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, 大学院工学研究院, 教授 )
DOI： https://doi.org/10.52926/JPMJTM15G6
Terms in the title (6)：
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ダイオード特性

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抵抗変化

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不揮発性メモリ

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Research program：
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