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J-GLOBAL ID:202104008327955573  Research Project code:08068797

トランジスタ不良に伴う遅延故障に対する故障検査法の開発

トランジスタ不良に伴う遅延故障に対する故障検査法の開発
Study period:2008 - 2008
Organization (1):
Principal investigator: ( , 大学院理工学研究科, 准教授 )
Research overview:
近年の高速LSIでは、動作タイミングに影響を与えるような物理的欠陥が問題となっている。特にトランジスタの不良に伴う遅延故障は、故障動作が多岐に渡り、故障検査が困難である。そこで本研究では、トランジスタ不良に伴う遅延故障をトランジスタレベルではなく論理レベルで故障動作をモデル化し、それを効率よく検出するような故障検査法を開発する。ここでは特に、多くの企業、研究所で利用されている縮退故障用テストパターン生成ツールを応用した、テストパターン生成法を開発する。
Terms in the title (5):
Terms in the title
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Research program:
Organization with control over the research:
Japan Science and Technology Agency

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