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J-GLOBAL ID:202104010333729300  Research Project code:17940624

ビッグデータアプローチによるX線レーザーイメージングの高度化

ビッグデータアプローチによるX線レーザーイメージングの高度化
National award number:JPMJPR1772
Study period:2017 - 2020
Organization (1):
Principal investigator: ( , 電子科学研究所, 助教 )
DOI: https://doi.org/10.52926/JPMJPR1772
Research overview:
新世代のX線光源であるX線自由電子レーザーによる計測と、大規模データの高度自動解析技術を組み合わせることによって、従来試料固定や放射線損傷などの問題から捉えることが困難であった、液中における個別試料の特異的な構造を高空間分解能に可視化し、材料科学や生物学など幅広い学問分野の発展に寄与可能な新たな顕微イメージング領域の開拓を目指します。
Terms in the title (4):
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Research program:
Parent Research Project: 計測技術と高度情報処理の融合によるインテリジェント計測・解析手法の開発と応用
Organization with control over the research:
Japan Science and Technology Agency
Reports :

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