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J-GLOBAL ID:202104010689246184  Research Project code:20349570

疲労・劣化の根源となる欠陥/き裂の非破壊観察技術の実現(要素技術タイプ)

疲労・劣化の根源となる欠陥/き裂の非破壊観察技術の実現(要素技術タイプ)
National award number:JPMJMI20C2
Study period:2020 - 2021
Organization (1):
Principal investigator: ( , 物質構造科学研究所, 教授 )
DOI: https://doi.org/10.52926/JPMJMI20C2
Research overview:
材料の寿命の解明と延伸には、疲労・劣化の根源的理解に基づいてその前兆(前駆現象)を検知もしくは予測することが必要となる。そのためには、マクロ的に疲労・劣化が顕在化する前に、ナノ〜ミクロレベルで前駆現象を観察することが重要となる。本課題では、放射光/X線を用いた顕微鏡、陽電子消滅法 を活用して、分子レベル(
Terms in the title (6):
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Research program:
Parent Research Project: 持続可能な社会の実現「モノの寿命の解明と延伸による使い続けられるものづくり」
Organization with control over the research:
Japan Science and Technology Agency
Reports :

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