Proj
J-GLOBAL ID：202104010689246184
Research Project code：20349570
疲労・劣化の根源となる欠陥/き裂の非破壊観察技術の実現(要素技術タイプ)
疲労・劣化の根源となる欠陥/き裂の非破壊観察技術の実現(要素技術タイプ)
National award number：JPMJMI20C2
Study period：2020 - 2021
Organization (1)：
Principal investigator：
(
, 物質構造科学研究所, 教授 )
DOI：
https://doi.org/10.52926/JPMJMI20C2
Research overview：
材料の寿命の解明と延伸には、疲労・劣化の根源的理解に基づいてその前兆(前駆現象)を検知もしくは予測することが必要となる。そのためには、マクロ的に疲労・劣化が顕在化する前に、ナノ〜ミクロレベルで前駆現象を観察することが重要となる。本課題では、放射光/X線を用いた顕微鏡、陽電子消滅法 を活用して、分子レベル(<nm)〜ナノレベル(数10nm)のマルチスケールで、欠陥やき裂を観察する計測手法を確立する。それにより、前駆現象の解明のための科学的知見の取得、力学計算 やシミュレーション計算に必要なパラメータの高精度化による寿命予測、への展開が期待できる。
Terms in the title (6)：
Terms in the title
Keywords automatically extracted from the title.
,
,
,
,
,
Research program：
＞
＞
Parent Research Project：
持続可能な社会の実現「モノの寿命の解明と延伸による使い続けられるものづくり」
Organization with control over the research：
Japan Science and Technology Agency
