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J-GLOBAL ID：202104011284586987
Research Project code：07051340
価電子をその場観測する顕微軟X線発光分光法の開発
価電子をその場観測する顕微軟X線発光分光法の開発
National award number：JPMJPR0637
Study period：2006 - 2009
Organization (1)：
Principal investigator：
(
, 分子科学研究所, 助手 )
DOI：
https://doi.org/10.52926/JPMJPR0637
Research overview：
軟X線が物質に照射されると、1%以下の確率で軟X線発光が起こります。本研究では、この軟X線発光のうち50-500 eVの領域で、高エネルギー分解能軟X線発光スペクトルを、電場印加下、電解液共存下など、機能性材料が機能を発揮しているその場で測定します。さらに、顕微軟X線発光分光器を開発し、機能性電子材料の価電子について、機能発現時にその場で観測できる高精度な顕微分光法を確立します。
Terms in the title (4)：
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Research program：
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Parent Research Project：
構造機能と計測分析
Organization with control over the research：
Japan Science and Technology Agency
