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J-GLOBAL ID：202104012530912836
Research Project code：14530385
コヒーレントX線を用いた摩擦界面ダイナミクス評価手法の確立
コヒーレントX線を用いた摩擦界面ダイナミクス評価手法の確立
National award number：JPMJPR14KD
Study period：2014 - 2017
Organization (1)：
Principal investigator：
(
, 放射光科学総合研究センター, 研究員 )
DOI：
https://doi.org/10.52926/JPMJPR14KD
Research overview：
本研究では、摩擦界面での分子スケールダイナミクスをコヒーレントX線によるダイナミクス測定手法によって明らかにし、特に高分子ブラシ界面を扱い、拘束条件下での高分子のダイナミクスを測定対象とします。ダイナミクス測定には、X線自由電子レーザーSACLAおよびSPring-8のコヒーレントX線を利用した手法を駆使し、近接表面間で発現する高分子ブラシの緩和現象を時空間スケール依存で測定し、摩擦機構の解明を目指します。
Terms in the title (5)：
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Research program：
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Parent Research Project：
分子技術と新機能創出
Organization with control over the research：
Japan Science and Technology Agency
