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J-GLOBAL ID:202104012530912836  Research Project code:14530385

コヒーレントX線を用いた摩擦界面ダイナミクス評価手法の確立

コヒーレントX線を用いた摩擦界面ダイナミクス評価手法の確立
National award number:JPMJPR14KD
Study period:2014 - 2017
Organization (1):
Principal investigator: ( , 放射光科学総合研究センター, 研究員 )
DOI: https://doi.org/10.52926/JPMJPR14KD
Research overview:
本研究では、摩擦界面での分子スケールダイナミクスをコヒーレントX線によるダイナミクス測定手法によって明らかにし、特に高分子ブラシ界面を扱い、拘束条件下での高分子のダイナミクスを測定対象とします。ダイナミクス測定には、X線自由電子レーザーSACLAおよびSPring-8のコヒーレントX線を利用した手法を駆使し、近接表面間で発現する高分子ブラシの緩和現象を時空間スケール依存で測定し、摩擦機構の解明を目指します。
Terms in the title (5):
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Research program:
Parent Research Project: 分子技術と新機能創出
Organization with control over the research:
Japan Science and Technology Agency
Reports :

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