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J-GLOBAL ID：202104012700086847
Research Project code：08005592
ナノ物性計測シミュレータの開発
ナノ物性計測シミュレータの開発
National award number：JPMJCR02A5
Study period：2002 - 2007
Organization (1)：
Principal investigator：
(
, 大学院工学系研究科, 助教授 )
DOI：
https://doi.org/10.52926/JPMJCR02A5
Research overview：
ナノ構造およびナノスケール局所領域の物性計測は、今後ますます重要になると考えられますが、プローブや外場との強い相互作用のため、計測結果の解釈は困難なものになっています。本研究は、バイアス電圧などの電気的刺激を与えるナノ物性計測の計測データから、高い信頼性で物性を予測するための解析技術の確立を目指し、計測量そのものの計算と局所物理現象を解析する計算法により、実用的ナノ計測シミュレータを開発します。
Terms in the title (4)：
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Research program：
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Parent Research Project：
シミュレーション技術の革新と実用化基盤の構築
Organization with control over the research：
Japan Science and Technology Agency
