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J-GLOBAL ID:202104012733629994  Research Project code:07100194

透過型陽電子顕微鏡

透過型陽電子顕微鏡
National award number:JPMJSN05A2
Study period:2005 - 2009
Organization (1):
Research responsibility: ( , 大学院工学研究科, 教授 )
DOI: https://doi.org/10.52926/JPMJSN05A2
Research overview:
サブnmレベルの点欠陥から数nmのボイドといった空孔型欠陥のサイズ・量に関して、三次元分布情報を提供する透過型陽電子顕微鏡を開発します。線形加速器により発生した陽電子ビームの輸送方式、輝度増強光学システム、高効率減速材等の開発により陽電子マイクロビームの発生法を確立し、それと透過型電子顕微鏡との融合により開発課題を達成します。また、陽電子データの標準試料の整備等を行います。
Terms in the title (1):
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Research program:
Organization with control over the research:
Japan Science and Technology Agency

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