近接場偏光顕微技術の開発

National award number：JPMJSN12B8
Study period：2012 - 2015
Organization (1)：
Research responsibility： ( , 大学院工学研究科, 教授 )
DOI： https://doi.org/10.52926/JPMJSN12B8
Research overview：

10nm以下の磁区分布計測は、スピン偏極電子顕微鏡で行われていますが、試料作製の複雑さ、装置の簡素化などに大きな課題があります。本課題では、新たにプラズモン励起近接場光探針を用いた近接場偏光顕微鏡(SNPM)技術を開発し、簡易装置で10nm分解能を持つ磁気特性評価手段であることを実証します。

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Research program：＞＞＞＞
Organization with control over the research：

Japan Science and Technology Agency

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