超伝導検出器を用いた分析電子顕微鏡の開発

National award number：JPMJSN13A6
Study period：2013 - 2016
Organization (1)：
Research responsibility： ( , 表界面構造・物性ユニット, 主幹研究員 )
DOI： https://doi.org/10.52926/JPMJSN13A6
Research overview：

透過型電子顕微鏡観察において、試料の構成元素分布を現在よりはるかに高い精度・感度で計測するために、超伝導遷移端センサをX線検出器として応用する分析電子顕微鏡を開発する。本装置により、透過型電子顕微鏡の高い空間分解能を活かしつつ、高い精度・感度での元素分布マップ取得が可能になる。組織・組成が複雑化する材料開発の分野だけでなく、医学生物学系等の幅広い分野の研究に貢献する、世界をリードする基盤的な観察・分析装置となることが期待される。

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Research program：＞＞＞＞
Organization with control over the research：

Japan Science and Technology Agency

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