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J-GLOBAL ID：202104014567780568  Research Project code：19198405

薄膜ディスプレイ品質保証用の広帯域複屈折測定装置の開発

薄膜ディスプレイ品質保証用の広帯域複屈折測定装置の開発
National award number：JPMJTM19AX
Study period：2019 - 2020
Organization (1)：
宇都宮大学

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Principal investigator：
東口 武史

About 東口 武史

(
宇都宮大学

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, 工学部, 教授 )
DOI： https://doi.org/10.52926/JPMJTM19AX
Research overview：
フレキシブル基板,フィルム,樹脂,透明電極,接着剤などをマルチ波長でインライン計測し,高品質管理することが強く求められている,低価格の超広帯域光源を開発し,短時間時間での複屈折位相差計測法を開発する.
Terms in the title (7)：
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薄膜

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ディスプレイ品質

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保証

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広帯域

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複屈折

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測定装置

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開発

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Research program：
Industry-Academia Collaborative R&D

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Organization with control over the research：
Japan Science and Technology Agency

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