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J-GLOBAL ID：202104014790311731
Research Project code：20352868
あらゆる半導体デバイスに適用できるオペランド観測技術の確立
あらゆる半導体デバイスに適用できるオペランド観測技術の確立
National award number：JPMJFR203P
Study period：2021 - 2027
Organization (1)：
Principal investigator：
(
, 物質構造科学研究所, 特任准教授 )
DOI：
https://doi.org/10.52926/JPMJFR203P
Research overview：
昨今のエネルギー問題を解消すべく,クリーンエネルギー創出や省エネ化のための半導体材料やデバイスが次々と開発されています.これらの性能は,電荷キャリアである電子と正孔(電子が抜けた穴)の動きにより左右されます.本研究では,半導体デバイスが動作している状態下での電荷キャリアの動きを空間,時間,および,エネルギー的に評価する新規手法を開拓し,素子開発のスピードアップ,また,性能向上を目指します.
Terms in the title (3)：
Terms in the title
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Research program：
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Parent Research Project：
北川パネル
Organization with control over the research：
Japan Science and Technology Agency
