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J-GLOBAL ID:202104015260609043
Research Project code:7700002772
低速・軽イオン励起特性X線の精密分析技術
低速・軽イオン励起特性X線の精密分析技術
National award number:JPMJSN04B6
Study period:2004 - 2006
Organization (1):
Research responsibility:
(
, 超高圧電顕共用ステーション, ステーション長 )
DOI:
https://doi.org/10.52926/JPMJSN04B6
Research overview:
数k~数十keVのエネルギーを持つ正電荷のイオンを、非電気伝導体の物質に照射することにより発生する低エネルギーのX線を測定することで、これまで極めて難しかった物質中のホウ素、炭素、窒素、酸素等の軽元素を高感度で分析する技術を確立します。本技術は小型の収束したイオンビームを用い、X線の新しい検出方式を実用化することで可能となり、他の分析機器とも容易に組み合わせて使用できるものです。
Terms in the title (6):
Terms in the title
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Research program:
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Organization with control over the research:
Japan Science and Technology Agency
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