テラヘルツ偏光イメージング分析技術の成果事業化検証のための装置開発

National award number：JPMJST1734
Study period：2017 - 2017
Organization (1)：
Principal investigator： ( , 理工学部, 准教授 )
DOI： https://doi.org/10.52926/JPMJST1734
Research overview：

本プロジェクトでは、潜在的なニーズを有する高分子材料の内部歪み検査装置として、高速テラヘルツ偏光イメージング分析装置・データ処理プログラム・画像処理部分をMVPとして開発し、顧客が扱いやすいデータセットとして提示し、評価を受ける。

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Research program：＞＞＞
Organization with control over the research：

Japan Science and Technology Agency

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