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J-GLOBAL ID：202104016318011271  Research Project code：18067733

テラヘルツ偏光計測によるPTFE内部残留応力評価法の開発

テラヘルツ偏光計測によるPTFE内部残留応力評価法の開発
National award number：JPMJTM18BV
Study period：2018 -
Organization (1)：
東京大学

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Principal investigator：
梶原 優介

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(
東京大学

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, 生産技術研究所, 准教授 )
DOI： https://doi.org/10.52926/JPMJTM18BV
Terms in the title (7)：
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Organization with control over the research：
Japan Science and Technology Agency

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