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J-GLOBAL ID:202104017363109262  Research Project code:08003225

動的マイクロスペックルパターン干渉とマイクロ磁気探傷法による材料評価システムの開発

動的マイクロスペックルパターン干渉とマイクロ磁気探傷法による材料評価システムの開発
Study period:2007 - 2007
Organization (1):
Principal investigator: ( , 機械システム工学科, 助教授 )
Research overview:
材料の劣化や破壊のメカニズムは複雑で、その診断には今なお経験による所が大きい。近年、この課題を解決するために,数値および実験的なマルチスケール解析の構築が求められている。そのために、我々が開発した材料の変形状態が光の波長の精度で動的に観察できる動的スペックル干渉法を顕微鏡下での動的マイクロスペックル干渉法へと発展させると共に、磁気探傷法による材料評価との新たなハイブリッド法を構築する。
Terms in the title (6):
Terms in the title
Keywords automatically extracted from the title.
Research program:
Organization with control over the research:
Japan Science and Technology Agency

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