X線分析装置用透過型多層膜集光レンズの開発

Study period：2009 - 2009
Organization (1)：
Principal investigator： ( , 計測フロンティア研究部門, 主任研究員 )
Research overview：

ナノテク・材料研究においては、X線を用いて材料組成を分析する技術は非常に重要である。放射光など高輝度光源のみならず、既存のX線源を用いて高感度・高分解能で分析する技術の開発が期待されている。そのために、本研究課題では、測定位置でのX線強度の向上を目指して、いままで培ってきた多層薄膜積層法を用いて、透過型X線集光レンズの開発を行う。

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Research program：＞＞＞＞
Organization with control over the research：

Japan Science and Technology Agency

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