次世代知能型設備診断システム

Study period：2003 -
Organization (1)：
Principal investigator： ( , 教授 )
Research overview：

現状の市販診断器の診断原理は、ほとんど振動値(平均値や実効値などの有次元特徴パラメータ)により設備状態を識別するもので、安定した微小異常の検出が不十分で、高精度の劣化傾向監視も困難である。本開発では,最新設備診断理論及び高度情報工学的手法を用いて「次世代知的設備診断装置」を優位製品とした診断サービスの提供を実現する。本技術は機械設備以外でも、インフラ施設や医療分野での診断への拡張応用も期待できる。

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Research program：＞＞＞＞
Organization with control over the research：

Japan Science and Technology Agency

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