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J-GLOBAL ID:202104019161717913
Research Project code:12101916
電子回折による短時間計測・高精度三次元逆格子マッピング法の開発
電子回折による短時間計測・高精度三次元逆格子マッピング法の開発
Study period:2012 - 2013
Organization (1):
Research responsibility:
(
, 物質創成科学研究科, 准教授 )
Research overview:
デバイス用ナノ構造体の結晶構造や配向、歪み評価などに威力を発揮する三次元逆格子マップ作成を、電子回折を用いて短時間で精度良く行う手法を開発する。三次元逆格子マップ作成にX線回折では数ヶ月以上必要とする計測時間を、本手法では数十分に短縮することができる。現在、本手法で結晶構造の判別や複雑な配向を明らかにしてきているが、開発前の装置ではその歪み評価精度が約1%と大きかった。本課題では、実用化に向け0.1%の精度を目標とし、装置の改良により0.1%以下の精度を得ることができた。今後、実用化に必要な0.01%以下での精度と同時に、一般ユーザー向けに結晶構造や配向、歪み評価の自動解析プログラムの開発をも目指す。
Terms in the title (4):
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Research program:
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Organization with control over the research:
Japan Science and Technology Agency
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