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J-GLOBAL ID:202104019348487644  Research Project code:7700000945

ナノサイズ一次元構造の電子物性評価

ナノサイズ一次元構造の電子物性評価
National award number:JPMJPR02AG
Study period:2002 - 2005
Organization (1):
Principal investigator: ( , 物性研究所, 助教授 )
DOI: https://doi.org/10.52926/JPMJPR02AG
Research overview:
ナノテクノロジーを考える上で、ナノスケールのサイズを持つ構造の電子状態や電気伝導特性を評価することは重要です。特殊環境化で動作する走査トンネル顕微鏡(STM)や原子間力顕微鏡(AFM)を用いて、ナノサイズの幅を持つリング構造の電子状態が磁場によってどのように変化するかを観察することによってその電気伝導特性や散乱現象を明らかにするなど、ナノスケールでの観点からその物性を捉えます。
Terms in the title (3):
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Research program:
Parent Research Project: 情報、バイオ、環境とナノテクノロジーの融合による革新的技術の創製
Organization with control over the research:
Japan Science and Technology Agency
Reports :

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