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J-GLOBAL ID:202203005063604453

物理量の測定装置及び温度測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 特許業務法人矢野内外国特許事務所
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2020161279
Publication number (International publication number):2022054215
Application date: Sep. 25, 2020
Publication date: Apr. 06, 2022
Summary:
【課題】設置作業が簡便で、かつ保守作業が容易な多点測定装置を提供する。 【解決手段】投光器(11)と、この投光器(11)から照射された光を導く光ファイバ(12-3)と、この光ファイバ(12-3)の先端に設けて前記の光から干渉光を生じさせるセンサ体(S)と、干渉光を受光する受光器(16)と、この受光器(16)の出力信号に基づいて所定の物理量を特定する解析器(17)とを備えた測定装置において、投光器(11)と光ファイバ(12-3)との間に、それぞれ波長の異なる光を出射する複数のポートを備えた波長合分波器(15)を設けて複数箇所の物理量を測定可能とする。特に、光ファイバ(12-3)は、波長合分波器のポートにそれぞれ接続するとともに、各光ファイバ(12-3)の先端に設けたセンサ体(S)の光スペクトル特性を当該ポートから出射される光の波長に適合させる。 【選択図】図1
Claim (excerpt):
投光器と、 この投光器から照射された光を導く光ファイバと、 この光ファイバの先端に設けて前記光から干渉光を生じさせるセンサ体と、 前記干渉光を受光する受光器と、 この受光器の出力信号に基づいて所定の物理量を特定する解析器と を備えた測定装置において、 前記投光器と前記光ファイバとの間には、それぞれ波長の異なる光を出射する複数のポートを備えた波長合分波器を設け、 前記の各ポートに前記光ファイバをそれぞれ接続するとともに、前記センサ体の光スペクトル特性を前記ポートから出射される光の波長に適合させて、 複数箇所の物理量を測定可能とする測定装置。
IPC (5):
G01K 11/32 ,  G01N 21/45 ,  G01K 1/02 ,  G08C 15/00 ,  G08C 23/06
FI (5):
G01K11/32 Z ,  G01N21/45 ,  G01K1/02 L ,  G08C15/00 K ,  G08C23/06
F-Term (31):
2F056VF02 ,  2F056VF12 ,  2F056VF13 ,  2F056VF15 ,  2F073AA01 ,  2F073AA02 ,  2F073AB01 ,  2F073BB06 ,  2F073BC04 ,  2F073CC02 ,  2F073CD05 ,  2F073DD06 ,  2F073FF08 ,  2F073FH02 ,  2F073FH03 ,  2F073FH07 ,  2F073FH12 ,  2F073FH17 ,  2F073GG01 ,  2F073GG04 ,  2F073GG09 ,  2G059AA02 ,  2G059AA03 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE11 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059LL01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
  • 温熱治療器
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2018-190480   Applicant:国立大学法人岡山大学
  • 光ファイバ装置及びセンサシステム
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2016-212379   Applicant:国立大学法人岡山大学
Cited by examiner (5)
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