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J-GLOBAL ID：202203007563362017

シンチレータの発光減衰時定数の測定方法、その測定装置およびシンチレータの賦活材濃度の測定方法

Inventor： 石川 正純 ,  小川原 亮
Applicant, Patent owner： 国立大学法人北海道大学
Agent (1)： 特許業務法人YKI国際特許事務所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2017227688
Publication number (International publication number)：2019095402
Patent number：7022977
Application date： Nov. 28, 2017
Publication date： Jun. 20, 2019
Claim (excerpt)：

【請求項1】 シンチレータの発光減衰時定数の測定方法であって、 シンチレータに放射線が入射するイベントによって、シンチレータから出力される光を光電変換して電気信号に得、 得られた1つのイベントについての電気信号の電圧波形におけるピーク値(Vp)と積分値(Q)との比(Vp/Q)を算出し、 予め得られている、ピーク値と積分値との比(Vp/Q)と、シンチレータの発光減衰時定数との関係であって、(Vp/Q)を(y)、発光減衰時定数を(x)、a,bを定数とした場合に、y=a/x+bとなる関係を利用して、算出されたVp/Qからシンチレータの発光減衰時定数を決定する、 シンチレータの発光減衰時定数の測定方法。

IPC (1)：

G01T 1/20 ( 200 6.01)

FI (1)：

G01T 1/20 J

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 蛍光材料及びその製造方法、シンチレータ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2008-073960   Applicant：日立金属株式会社

Cited by examiner (1)

• 蛍光材料及びその製造方法、シンチレータ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2008-073960   Applicant：日立金属株式会社