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J-GLOBAL ID：202203008329051306

テストケース生成装置、テストケース生成方法

Inventor： 左近 健太 ,  舘下 桂 ,  明神 智之 ,  來間 啓伸 ,  石川 誠 ,  小川 秀人
Applicant, Patent owner： 株式会社日立情報通信エンジニアリング
Agent (1)： 青稜弁理士法人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2021094820
Publication number (International publication number)：2022186542
Application date： Jun. 04, 2021
Publication date： Dec. 15, 2022
Summary：

【課題】バグが発生したパラメータ値に関わるテスト項目を重点的に生成するテストケース生成装置及び方法を提供する。 【解決手段】方法は、入力項目であるパラメータ値を1つまたは複数含むテスト項目をテスト対象プログラムに与えて実行した結果の入力を受け付け、実行した結果から得られるバグ発生率に基づいて、パラメータ値ごとにバグ要因の可能性の高さである重要度を算出し、算出された重要度が第1の所定の条件を満たす場合に、重要度に対応するパラメータ値を決定し、テストの重点箇所または/および非重点箇所を示すテスト観点に反映する。反映されたテスト観点に基づいてテスト項目を生成し、生成されたテスト項目の数が閾値を超えていた場合に、第2の所定の条件を満たす重要度に対応するパラメータ値を決定し、決定したパラメータ値をテスト観点の非重点箇所に反映してテスト項目の数を抑制して、抑制された数のテスト項目を出力する。 【選択図】図2

Claim (excerpt)：

コンピュータにより行われる処理のテストケースを生成するテストケース生成装置であって、 入力項目であるパラメータ値を1つまたは複数含むテスト項目をテスト対象プログラムに与えて実行した結果の入力を受け付けるテスト結果入力処理と、 前記実行した結果から得られるバグ発生率に基づいて、前記パラメータ値ごとにバグ要因の可能性の高さである重要度を算出するパラメータ値重要度解析処理と、 算出された前記重要度が第1の所定の条件を満たす場合に、当該重要度に対応するパラメータ値を決定し、テストの重点箇所または/および非重点箇所を示すテスト観点に反映するテスト観点決定処理と、 反映された前記テスト観点に基づいてテスト項目を生成するテスト項目生成処理と、 生成された前記テスト項目の数が閾値を超えていた場合に、第2の所定の条件を満たす前記重要度に対応する前記パラメータ値を決定し、決定した前記パラメータ値を前記テスト観点の非重点箇所に反映して前記テスト項目の数を抑制するテスト項目抑制処理と、を行う演算装置と、 抑制された数の前記テスト項目を出力するテスト項目出力処理、を行う出力装置と、 を有することを特徴とするテストケース生成装置。

IPC (1)：

G06F 11/36

FI (1)：

G06F11/36 184

F-Term (3)：

5B042HH17 ,  5B042HH49 ,  5B042KK20

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• ソフトウェアテストケース生成装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2011-216140   Applicant：株式会社日立製作所