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J-GLOBAL ID：202203008578220533
質量分析装置、質量分析方法および質量分析プログラム
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (3)：
中川 雅博
, 坂根 剛
, 澤村 英幸
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：8028727
Patent number：7021754
Application date： Jul. 31, 2018
Claim (excerpt)：
【請求項1】表示部に接続可能な質量分析装置であって、 複数のサンプルの各々について分析データを取得するデータ取得部と、 複数のサンプルを複数の基本グループに分類する分類部と、 前記複数の基本グループについて複数の特定の薬剤に対する耐性を含む薬剤耐性のパターンの類似度に基づいて、複数のノードを含む系統樹を作成する系統樹作成部と、 前記作成された系統樹を前記表示部に表示させる表示制御部と、 前記複数のノードのうちいずれかのノードの指定を着目ノードの指定として受け付けるノード受付部と、 前記系統樹において前記指定された着目ノードについての複数の子ノードに属する複数の基本グループを、それぞれ前記複数の子ノードに対応する複数のグループに再編成することにより複数の再編成グループを生成する再編成部と、 前記複数の再編成グループの各々に対応する1または複数の分析データに基づいて、前記複数の再編成グループ間で分析データの差異の解析を行うことにより、前記指定された着目ノードに対応する薬剤に対する耐性を判定するためのマーカピークを探索する解析部とを備える、質量分析装置。
IPC (1)：
FI (1)：
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