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J-GLOBAL ID：202203011132780692

温度測定装置、温度測定方法及び温度減衰測定方法

Inventor： 圓山 重直 ,  岡部 孝裕 ,  井関 祐也 ,  野中 崇 ,  古川 琢磨 ,  細川 靖 ,  田畑 裕太郎 ,  松舘 直史 ,  中島 利憲 ,  東 雅也 ,  折戸 学
Applicant, Patent owner： SEMITEC株式会社 ,  独立行政法人国立高等専門学校機構 ,  国立大学法人弘前大学
Agent (1)： 和泉 順一
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2020107686
Publication number (International publication number)：2022003309
Patent number：7157103
Application date： Jun. 23, 2020
Publication date： Jan. 11, 2022
Claim (excerpt)：

【請求項1】 温度を感知する感温部と、 前記感温部を被測定体に接触させることにより、温度を測定可能な測定用の薄膜感温素子と、 前記測定用の薄膜感温素子と断熱層を介して熱交換可能に配置され、前記測定用の薄膜感温素子と温度が等しくなるように制御される保護加熱用の薄膜感温素子と、 前記測定用の薄膜感温素子を、前記被測定体の温度より一定温度低い温度状態にすることが可能な温度制御素子と、 前記測定用の薄膜感温素子、前記保護加熱用の薄膜感温素子及び前記温度制御素子を制御する制御処理部と、 を具備することを特徴とする温度測定装置。

IPC (4)：

G01K 7/22 ( 200 6.01) ,  A61B 10/00 ( 200 6.01) ,  A61B 5/01 ( 200 6.01) ,  G01K 13/20 ( 202 1.01)

FI (6)：

G01K 7/22 Q ,  G01K 7/22 A ,  A61B 10/00 T ,  A61B 10/00 Q ,  A61B 5/01 150 ,  G01K 13/20 361 S

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 温度測定装置
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2002-566621   Applicant：ボームバック,パー,レナート
• 温度検出カテーテル
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2002-509976   Applicant：ハドックトーマスエフ
• ゼロ熱流束深部組織温度測定装置のための構成
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2013-503738   Applicant：アリザントヘルスケアインク.