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J-GLOBAL ID：202203016218452754
評価システム、評価方法及びプログラム
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：
棚井 澄雄
, 飯田 雅人
, 清水 雄一郎
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2017138751
Publication number (International publication number)：2019021011
Patent number：7004997
Application date： Jul. 18, 2017
Publication date： Feb. 07, 2019
Claim (excerpt)：
【請求項1】所定の定数であるα、βおよびnの設定を受け付けるデータ取得部と、 論文集に掲載された論文の著者が所属する機関の情報を集計して得られる機関数と、前記機関がどの国の機関であるかを示す情報を集計して得られる国数と、前記αと、前記βと、前記nと、を用いて以下の式によって、前記論文集の多様性に対する評価値を算出する評価値算出部と、評価値 = logn(α×前記国数+β×前記機関数)前記評価値を出力する出力部と、を備え、前記データ取得部は、前記αと前記βに同じ値が設定された第1設定情報、前記αに前記βよりも大きな値が設定された第2設定情報、前記βに前記αよりも大きな値が設定された第3設定情報、のうちの少なくとも2つの設定情報の設定を受け付け、前記評価値算出部は、前記データ取得部で受け付けた前記設定情報のそれぞれを前記式に設定した場合の前記評価値を算出し、前記出力部は、前記設定情報ごとに算出された前記評価値を出力する、 評価システム。
IPC (1)：
FI (1)：
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
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研究評価のためのシステム及び方法
Gazette classification：公表公報
Application number：特願2013-513270
Applicant：エルゼビア・インコーポレーテッド
Cited by examiner (1)
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研究評価のためのシステム及び方法
Gazette classification：公表公報
Application number：特願2013-513270
Applicant：エルゼビア・インコーポレーテッド
Article cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
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Research Metrics for the Rest of Us
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ソフトウェアメトリクス統計分析入門, 20190519, pp.180-183
Cited by examiner (2)
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Research Metrics for the Rest of Us
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ソフトウェアメトリクス統計分析入門, 20190519, pp.180-183
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