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J-GLOBAL ID：202203020206494114
アレルギー発症リスクを予測するためのデータを収集する方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (10)：
廣田 雅紀
, 小澤 誠次
, 東海 裕作
, 松田 一弘
, 松橋 泰典
, 堀内 真
, 山内 正子
, 園元 修一
, 山村 昭裕
, 富田 博行
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：7017933
Patent number：7062291
Application date： May. 11, 2017
Claim (excerpt)：
【請求項1】乳児が、乳幼児期にアレルゲンに対してアレルギーを発症するリスクを予測するために、以下の工程(d)を実施するためのデータを収集する方法であって、工程(a)~(c)を含む、前記方法。(a)乳幼児期にアレルギーを発症したか否かが既知の複数の生後6ヶ月の乳児から採取した試料中のアレルゲンに対するIgE抗体価とIgG1抗体価をそれぞれ定量測定し、IgG1抗体価をX軸に、IgE抗体価をY軸にプロットして散布図を作成し、散布図のデータを二つのブロックに分割し、それぞれのグループについて回帰分析をした場合に、アレルギーを発症するリスクが低い集団に適用される一次関数<1>(Y1=aX1-b、但し、a>0、b>0)とアレルギーを発症するリスクが高い集団に適用される一次関数<2>(Y2=cX2-d、但し、c>a)とを算出し、判断基準とする工程;(b)生後6ヶ月の被検乳児から採取した試料中のアレルゲンに対するIgG1及びIgEの抗体価をそれぞれ定量測定する工程;(c)工程(b)で定量測定した、被検乳児から採取した試料中のアレルゲンに対するIgG1及びIgEの抗体価を前記散布図の、IgG1抗体価をX軸に、IgE抗体価をY軸にプロットする工程;(d)一次関数<1>が適用されるブロックに属する被検乳児をアレルゲンに対するアレルギーを発症するリスクが低い乳児と予測し、一次関数<2>が適用されるブロックに属する被検乳児をアレルゲンに対するアレルギーを発症するリスクが高い乳児と予測する工程;
IPC (1)：
FI (2)：
G01N 33/53 N
, G01N 33/53 Q
