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J-GLOBAL ID:202203020436687140
表面張力測定方法、表面張力測定装置およびプログラム
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
木村 満
, 森川 泰司
, 龍竹 史朗
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2021005491
Publication number (International publication number):2022110226
Application date: Jan. 18, 2021
Publication date: Jul. 29, 2022
Summary:
【課題】試料の表面張力を簡易且つ高精度に測定することができる表面張力測定方法、表面張力測定装置およびプログラムを提供する。
【解決手段】表面張力測定方法は、試料SP1に圧子15を押し込むことにより試料SP1の表面張力を測定する方法であって、圧子15を試料SP1に押し込んだときの圧子15の押込量δと、圧子15に作用する押込荷重Fと、から、試料SP1の表面張力を算出する。また、この表面張力測定方法では、圧子15を第1押込量だけ押し込んだときに圧子15に作用する第1押込荷重と、圧子15を第1押込量とは異なる第2押込量だけ押し込んだときに圧子15に作用する第2押込荷重と、に基づいて、試料SP1の表面張力を算出する。
【選択図】図1
Claim (excerpt):
試料に圧子を押し込むことにより前記試料の表面張力を測定する表面張力測定方法であって、
前記圧子を前記試料に押し込んだときの前記圧子の押込量と、前記圧子に作用する押込荷重と、から、前記試料の表面張力を算出する、
表面張力測定方法。
IPC (1):
FI (1):
Patent cited by the Patent:
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