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J-GLOBAL ID：202203021016402031

試験装置、試験方法及び試験プログラム

Inventor： 西郡 大 ,  兒玉 浩明 ,  園田 泰正
Applicant, Patent owner： 国立大学法人佐賀大学
Agent (1)： 平井 安雄
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2017230497
Publication number (International publication number)：2019101161
Patent number：7013004
Application date： Nov. 30, 2017
Publication date： Jun. 24, 2019
Claim (excerpt)：

【請求項1】 解答時間が設定され、被験者の学習力を測定する試験装置であって、 出題される設問及び正答を含む設問情報を記憶する設問情報記憶手段と、 前記設問を解答するのに必要な知識及び/又は考え方を示す教育教材情報を記憶する解説情報記憶手段と、前記教育教材情報をディスプレイに表示するように制御する解説制御手段と、 解説制御手段の制御により教育教材情報がディスプレイに表示された後に、被験者の入力操作に基づいて、直前に表示されていた教育教材情報に関連する設問情報を前記ディスプレイに表示するように制御する設問制御手段と、試験の開始時刻から終了時刻までの試験時間を管理する時間管理部とを備え、前記時間管理部が管理する試験時間の開始時刻後に前記解説制御手段による前記教育教材情報の表示処理、及び当該教育教材情報の表示処理後に前記設問制御手段による前記設問情報の表示処理が少なくとも実行されることを特徴とする試験装置。

IPC (3)：

G09B 7/02 ( 200 6.01) ,  G09B 5/02 ( 200 6.01) ,  G06Q 50/20 ( 201 2.01)

FI (3)：

G09B 7/02 ,  G09B 5/02 ,  G06Q 50/20

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 設問提示方法および設問回答システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-277216   Applicant：合資会社ジェイエディット
• 学習支援システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-017443   Applicant：橋本岳
• 学習装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-062044   Applicant：オリンパス光学工業株式会社

Cited by examiner (3)

• 設問提示方法および設問回答システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-277216   Applicant：合資会社ジェイエディット
• 学習支援システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-017443   Applicant：橋本岳
• 学習装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-062044   Applicant：オリンパス光学工業株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• CAI コンピュータを食べてしまう先生と生徒たち 第1版, 19970425, 67〜77頁

Cited by examiner (1)

• CAI コンピュータを食べてしまう先生と生徒たち 第1版, 19970425, 67〜77頁