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J-GLOBAL ID：202303002425971571

遺伝子変異評価方法、遺伝子変異評価用キット

Inventor： 高光 恵美 ,  大場 光芳 ,  森弘 惇一 ,  山野 博文 ,  湯尻 俊昭 ,  松隈 雅史
Applicant, Patent owner： 東洋鋼鈑株式会社 ,  国立大学法人山口大学
Agent (1)： 弁理士法人平木国際特許事務所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：8024511
Patent number：7248982
Application date： Jun. 28, 2018
Claim (excerpt)：

【請求項1】 複数の遺伝子変異が存在しうる特定箇所を含む領域を増幅して標識を有する増幅断片を得る工程と、 上記特定箇所における野生型の配列に対応する第1のプローブと、上記増幅断片における上記遺伝子変異を除く配列に対応する共通プローブと、上記複数の遺伝子変異のうち特定の遺伝子変異に対応する第2のプローブとを、上記増幅断片を含む溶液と接触させ、上記第1のプローブ、上記共通プローブ及び上記第2のプローブにおける上記標識に基づくシグナルを検出する工程と、 判定式:[第1のプローブのシグナル強度]/[共通プローブのシグナル強度]により第1の判定値、及び判定式:[第2のプローブのシグナル強度]/([第1のプローブのシグナル強度]+[第2のプローブのシグナル強度])により第2の判定値を算出する工程と、 上記第1の判定値及び上記第2の判定値をそれぞれ予め設定したカットオフ値と比較し、上記第1の判定値が予め設定したカットオフ値を上回る場合に上記特定の遺伝子変異及び上記複数の遺伝子変異のうち特定の遺伝子変異以外の遺伝子変異のいずれも有しないと判定し、上記第1の判定値が予め設定したカットオフ値を下回り、且つ上記第2の判定値が予め設定したカットオフ値を上回る場合に上記特定の遺伝子変異を有すると判定し、上記第1の判定値が予め設定したカットオフ値を下回り、且つ上記第2の判定値が予め設定したカットオフ値を下回る場合に上記複数の遺伝子変異のうち特定の遺伝子変異以外の遺伝子変異を有すると判定する工程と を含む遺伝子変異評価方法。

IPC (4)：

C12Q 1/6827 ( 201 8.01) ,  C12Q 1/6834 ( 201 8.01) ,  C12Q 1/686 ( 201 8.01) ,  C12N 15/12 ( 200 6.01)

FI (4)：

C12Q 1/682 ZNA Z ,  C12Q 1/683 Z ,  C12Q 1/686 Z ,  C12N 15/12