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J-GLOBAL ID：202303003211703924

温度測定装置、体温計、温度測定方法及び温度減衰測定方法

Inventor： 圓山 重直 ,  井関 祐也 ,  古川 琢磨 ,  野中 崇 ,  細川 靖 ,  岡部 孝裕 ,  田畑 裕太郎 ,  松舘 直史 ,  中島 利憲 ,  東 雅也 ,  折戸 学
Applicant, Patent owner： SEMITEC株式会社 ,  独立行政法人国立高等専門学校機構 ,  国立大学法人弘前大学
Agent (1)： 和泉 順一
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2021006457
Publication number (International publication number)：2022110818
Patent number：7229280
Application date： Jan. 19, 2021
Publication date： Jul. 29, 2022
Claim (excerpt)：

【請求項1】 温度を感知する感温部と、 前記感温部を被測定体に接触させることにより、温度を測定可能な前記感温部に設けられた測定用の温度センサと、 前記感温部を被測定体に接触させたときから、前記測定用の温度センサの初期温度との差異を前記測定用の温度センサが検知した時間及びその時の前記測定用の温度センサの計測温度を検出し、前記差異を検知した時間から、一定時間後の時間及びその時の前記測定用の温度センサの計測温度を検出する温度検出手段と、 前記差異を検知した時間及び一定時間後の時間、その時の計測温度から前記感温部が被測定体に接触した時間を推定する推定手段と、 前記温度検出手段及び推定手段の出力情報に基づいて計測温度を推定する熱伝導解析手段と、前記温度検出手段、前記推定手段及び前記熱伝導解析手段を備える制御処理部と、 を具備することを特徴とする温度測定装置。

IPC (4)：

G01K 7/00 ( 200 6.01) ,  G01K 7/42 ( 200 6.01) ,  G01K 13/20 ( 202 1.01) ,  A61B 5/01 ( 200 6.01)

FI (5)：

G01K 7/00 381 D ,  G01K 7/42 A ,  G01K 13/20 361 G ,  G01K 13/20 361 H ,  A61B 5/01 100

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 熱流量センサの安定化温度を予測する方法
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2018-532140   Applicant：コーニンクレッカフィリップスエヌヴェ
• 温度測定装置及び温度測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2013-048829   Applicant：セイコーエプソン株式会社
• プローブ先端部の断熱と高速予測アルゴリズム
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2003-508903   Applicant：シャーウッドサーヴィシスアクチェンゲゼルシャフト
• 温度測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2012-082465   Applicant：株式会社ケーヒン