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J-GLOBAL ID：202303005078539760

ボルト破断式アクチュエータの制御装置、制御システム

Inventor： 宮田 喜久子 ,  原 進 ,  杉田 佳祐 ,  大槻 真嗣
Applicant, Patent owner： 国立大学法人東海国立大学機構 ,  国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構
Agent (4)： 弁理士法人あいち国際特許事務所 ,  藤谷 修 ,  一色 昭則 ,  角谷 智広
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2018245991
Publication number (International publication number)：2020107126
Patent number：7228183
Application date： Dec. 27, 2018
Publication date： Jul. 09, 2020
Claim (excerpt)：

【請求項1】 形状記憶合金からなり、貫通孔を有した形状記憶合金体と、前記形状記憶合金体の前記貫通孔に通され、前記形状記憶合金体を前記貫通孔の軸方向において第1拘束材と第2拘束材とを用いて拘束するボルトと、前記形状記憶合金体に接触し、電圧の印加によって発熱する加熱部と、を有したボルト破断式アクチュエータの、作動時刻を制御するボルト破断式アクチュエータの制御装置において、 前記形状記憶合金体の温度を測定する第1温度センサと、 前記加熱部の温度を測定する第2温度センサと、 前記形状記憶合金体のひずみを測定するひずみゲージと、 モデル予測制御によって前記形状記憶合金体の応力を制御する制御部と、 を有し、 前記制御部は、状態量を前記形状記憶合金体の温度T(t)、前記加熱部の温度Th (t)、前記形状記憶合金体に係る応力σ(t)、前記形状記憶合金体のひずみε(t)、前記形状記憶合金体のマルテンサイト相体積分率ξ(t)、とし、制御入力を前記加熱部への印加電圧として、各前記状態量のうち、前記形状記憶合金体の温度T(t)については前記第1温度センサにより測定した測定値、前記加熱部の温度Th (t)については前記第2温度センサにより測定した測定値、前記形状記憶合金体のひずみε(t)については前記ひずみゲージにより測定した測定値を用い、前記形状記憶合金体に係る応力σ(t)および前記形状記憶合金体のマルテンサイト相体積分率ξ(t)については支配方程式により推定される推定値を用いて、前記状態量の支配方程式に基づき、モデル予測制御を行う、 ことを特徴とするボルト破断式アクチュエータの制御装置。

IPC (1)：

G05D 15/01 ( 200 6.01)

FI (1)：

G05D 15/01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 締結構造の締結解放装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-244902   Applicant：本田技研工業株式会社