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J-GLOBAL ID：202303006285192327

物体認識システム検証装置

Inventor： 千田 伸男 ,  川上 大介 ,  青木 利晃 ,  冨田 堯 ,  河井 達治
Applicant, Patent owner： 三菱電機株式会社
Agent (2)： 吉竹 英俊 ,  有田 貴弘
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：0006777
Patent number：7199592
Application date： Feb. 20, 2020
Claim (excerpt)：

【請求項1】 物体認識システムで得られる物体認識結果を検証する物体認識システム検証装置であって、 前記物体認識システム検証装置は、 検証データセットを生成する生成部と、 前記検証データセットと前記物体認識システムで得られた前記物体認識結果とを用いて物体が正しく認識できたかどうかを検証する検証部と、を備え、 前記検証データセットは、 前記物体認識システムが認識すべき前記物体を含む画像と前記画像内の前記物体の物体情報と、を含み、前記画像は、前記物体認識システム検証装置に入力されて前記物体が検出され、 前記物体情報は、 前記画像内の第1の領域を特定する第1の領域情報を含み、 前記物体認識結果は、 前記物体認識システムで検出した前記物体の領域を第2の領域として特定する第2の領域情報を含み、 前記検証部は、 区間解析を用いて前記画像内の特定の領域を解析して数式として記述することで、前記第1の領域と前記第2の領域との位置関係を検証する、物体認識システム検証装置。

IPC (2)：

G06T 7/00 ( 201 7.01) ,  G08G 1/16 ( 200 6.01)

FI (2)：

G06T 7/00 650 Z ,  G08G 1/16 C