推定プログラム、装置、および方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：弁理士法人太陽国際特許事務所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2019040528
Publication number (International publication number)：2020144592
Patent number：7383886
Application date： Mar. 06, 2019
Publication date： Sep. 10, 2020
Claim (excerpt)：

【請求項1】対象に関する複数の属性に対応した複数の属性値に基づいて判定を行う判定モデルの判定結果に対して、それぞれが前記複数の属性のうちの所定の条件を満たす属性から選択された複数の判定属性のうちの少なくとも1つと、前記複数の属性のうちの所定の条件を満たす属性以外の属性から選択された非判定属性とを含む組合せからなる複数の組合せパターンであって、前記判定属性を1つ含む組合せ及び複数含む組合せを有する複数の組合せパターンのそれぞれ、及び前記非判定属性のみを含む組合せを有する組合せパターンと、前記判定結果と、の相関の度合を、前記組合せパターンに含まれる前記属性がとり得る各属性値の組合せに対する前記判定結果の比率に基づいて、推定し、前記複数の組合せパターンに含まれる前記判定属性のうちの注目した判定属性を含む複数の第1の組合せパターンのそれぞれについて、前記第1の組合せパターンと前記判定結果との相関の度合と、当該注目した判定属性が前記第1の組合せパターンから除かれた組合せパターンである第2の組合せパターンと前記判定結果との相関の度合と、の差を求め、前記複数の第1の組合せパターンのそれぞれについて求めた前記相関の度合の差の各々の和を、前記注目した判定属性の前記判定結果に対する影響の度合とし、前記複数の判定属性のそれぞれを、前記注目した判定属性として、前記複数の判定属性のそれぞれの前記判定結果に対する影響の度合を求めて、前記複数の判定属性を順位付けする、ことを含む処理をコンピュータに実行させるための推定プログラム。

IPC (1)：

G06F 16/907 ( 201 9.01)

FI (1)：

G06F 16/907

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

評価装置、評価方法、及び評価プログラム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2006-246810 Applicant：株式会社エヌ・ティ・ティ・データ
予測プログラムおよび予測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2005-217451 Applicant：富士通株式会社, 株式会社国際バイオインフォマティクス研究所
データ分析装置およびデータ分析方法並びにデータ分析プログラム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-222515 Applicant：シャープ株式会社

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