Pat

J-GLOBAL ID：202303009339319785

波浪解析システム

Inventor： 下園 武範 ,  山野 貴司 ,  古畑 亜佑美 ,  澁谷 容子 ,  小竹 康夫
Applicant, Patent owner： 国立大学法人 東京大学 ,  東洋建設株式会社
Agent (1)： 弁理士法人はなぶさ特許商標事務所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2020018025
Publication number (International publication number)：2021124388
Patent number：7402464
Application date： Feb. 05, 2020
Publication date： Aug. 30, 2021
Claim (excerpt)：

【請求項1】 波浪の進行方向を解析するシステムであって、 水上に設置される浮標と、 波浪の影響を受けない固定位置に設置され、前記浮標の画像を撮影する少なくとも1つの撮影手段と、 該少なくとも1つの撮影手段により撮影された前記浮標の画像に基づいて、前記浮標の周囲で発生した波浪の進行方向を解析する解析手段と、を含み、 該解析手段は、前記少なくとも1つの撮影手段により撮影された前記浮標の画像から、前記浮標が波浪の影響を受けて波浪の進行する水平方向と鉛直方向とで規定される平面上を移動する軌跡としての楕円軌道を、前記少なくとも1つの撮影手段から視たときの、前記楕円軌道の長径に相当する長径相当部分の長さを算出し、該算出結果に基づいて波浪の進行方向を解析し、 前記少なくとも1つの撮影手段として1つの撮影手段を含み、 前記解析手段は、前記1つの撮影手段により撮影された前記浮標の画像から、前記浮標が波浪の影響を受けて、波浪の進行する水平方向と鉛直方向とで規定される平面上を移動する軌跡としての楕円軌道の長径の長さと、前記1つの撮影手段から前記楕円軌道を視たときの前記長径に相当する長径相当部分の長さとを算出し、算出した前記長径の長さと前記長径相当部分の長さとの比に基づいて、波浪の進行方向を解析することを特徴とする波浪解析システム。

IPC (1)：

G01C 13/00 ( 200 6.01)

FI (1)：

G01C 13/00 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 波浪監視システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2016-241295   Applicant：国立大学法人東京大学, 東洋建設株式会社
• 流向・流速計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-176452   Applicant：株式会社日立製作所