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J-GLOBAL ID：202303010938740136
類似画像検索装置、類似画像検索方法および類似画像検索プログラム
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (4)：
野河 信太郎
, 甲斐 伸二
, 金子 裕輔
, 稲本 潔
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2019038608
Publication number (International publication number)：2020144440
Patent number：7329933
Application date： Mar. 04, 2019
Publication date： Sep. 10, 2020
Claim (excerpt)：
【請求項1】 商標画像である検索質問画像から1以上の局所特徴を抽出するクエリ特徴抽出部と、 予め画像の図形要素の形状的特徴に係る1以上の分類情報としてのウィーン分類コードが付与されかつ1以上の局所特徴が抽出されデータベースに格納された参照画像としての登録商標をそれぞれ参照し、検索質問画像と局所特徴の照合を行う形状照合部と、 前記照合に基づいて検索質問画像に対する各参照画像の形状類似度を算出する形状類似度算出部と、 各参照画像に付与された分類情報に基づいて検索質問画像につき1以上の分類情報としてのウィーン分類コードを推定し付与する分類付与部と、 検索質問画像に付与された分類情報と各参照画像に付与された分類情報との一致の度合いに基づいて検索質問画像に対する各参照画像の分類類似度を算出する分類類似度算出部と、 前記形状類似度および前記分類類似度に基づいて検索質問画像に類似する1以上の参照画像を出力する出力部と、を備え、 前記分類類似度は、下記式ただし、a:分類類似度、X:分類付与部によって商標画像に付与されたウィーン分類コードの集合、Y:データベースに格納されている各登録商標に付与されたウィーン分類コードの集合により算出され、 前記出力部は、前記形状類似度算出部が算出した形状類似度sと前記分類類似度aを用いて、下記式ただし、mは形状類似度sと分類類似度aの重みを示す定数によりそれぞれの参照画像との総合類似度s’を算出し、算出された総合類似度s’が高い順に所定数の参照画像を出力する類似画像検索装置。
IPC (1)：
FI (1)：
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
Cited by examiner (2)
Article cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
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高速・高精度を実現した類似商標画像検索システムの提案
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Improvement of Trademark Retrieval Using Pseudo Relevance Feedback
Cited by examiner (3)
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高速・高精度を実現した類似商標画像検索システムの提案
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高速・高精度を実現した類似商標画像検索システムの提案
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