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J-GLOBAL ID：202303013113572221

サイレージ発酵品質評価方法及び装置

Inventor： 中久保 亮 ,  石田 三佳 ,  遠野 雅徳 ,  小林 寿美 ,  吉川 元起 ,  南 皓輔 ,  今村 岳 ,  松阪 秀喜 ,  根本 尚大
Applicant, Patent owner： 国立研究開発法人農業・食品産業技術総合研究機構 ,  国立研究開発法人物質・材料研究機構
Agent (1)： 續 成朗
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：1011325
Patent number：7320803
Application date： Mar. 19, 2021
Claim (excerpt)：

【請求項1】 サイレージから発生したガスを表面応力センサに与え、 前記サイレージから発生したガスに応答して前記表面応力センサから出力されるシグナルを使用して、前記サイレージから発生したガス中の有機酸の量に基づく前記サイレージの発酵品質の評価を行う、サイレージ発酵品質評価方法。

IPC (2)：

G01N 33/00 ( 200 6.01) ,  G01N 5/02 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01N 33/00 A ,  G01N 5/02 Z