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J-GLOBAL ID：202303014395533220

舌状態推定装置、舌状態推定方法及びプログラム

Inventor： 小野 高裕 ,  堀 一浩 ,  大川 純平
Applicant, Patent owner： 国立大学法人 新潟大学
Agent (5)： 木村 満 ,  白井 健朗 ,  小林 悠太 ,  原田 卓治 ,  森川 泰司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2021159436
Publication number (International publication number)：2023049604
Application date： Sep. 29, 2021
Publication date： Apr. 10, 2023
Summary：

【課題】簡易に舌の状態を評価することができる舌状態推定装置、舌状態推定方法及びプログラムを提供する。 【解決手段】舌状態推定装置100は、識別部31及び舌苔推定部32を備える。識別部31は、撮影部10が撮影した口腔が写された口腔画像を取得する。識別部31は、口腔画像から舌を含む範囲の画像である舌範囲画像を識別する。舌苔推定部32は、舌範囲画像を分割して得られる複数の区画のうち、舌を表す舌区画毎に舌苔の付着度を調べるための舌苔特徴量を算出する。舌苔推定部32は、算出した舌苔特徴量に基づいて舌区画毎に舌苔の付着度の推定値を算出する。 【選択図】図1

Claim (excerpt)：

口腔が写された口腔画像から舌を含む範囲の画像である舌範囲画像を識別する識別手段と、 前記舌範囲画像を分割して得られる複数の区画のうち、前記舌を表す舌区画毎に舌苔の付着度を調べるための舌苔特徴量を算出し、算出した前記舌苔特徴量に基づいて前記舌区画毎に前記舌苔の付着度の推定値を算出する舌苔推定手段と、を備える、 舌状態推定装置。

IPC (3)：

A61B 10/00 ,  A61B 1/24 ,  A61B 1/045

FI (4)：

A61B10/00 E ,  A61B1/24 ,  A61B1/045 614 ,  A61B1/045 618

F-Term (5)：

4C161AA08 ,  4C161CC06 ,  4C161HH51 ,  4C161LL01 ,  4C161SS21

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 舌苔量推定システム及び舌苔量推定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2016-142876   Applicant：国立大学法人千葉大学