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J-GLOBAL ID：202304014097735670
Research Project code：21468521
電子線を用いた多次元多空間ナノスケール光計測
電子線を用いた多次元多空間ナノスケール光計測
National award number：JPMJFR213J
Study period：2022 - 2028
Organization (1)：
Principal investigator：
(
, 物質理工学院, 准教授 )
DOI：
https://doi.org/10.52926/JPMJFR213J
Research overview：
電子線を用いることで、光の波長限界をはるかに超えた空間スケールで、多次元・多空間的に光計測を行い、新たなナノ光計測・光デバイス応用の基盤を創ります。光速の50%程度まで加速された高エネルギーの電子線は、1nmスケールの白色点光源として機能し、コヒーレント発光においては光電場分布を計測できるだけでなく、電子線スキャンと同時に角度分解を行うことで面内運動量計測も可能な、多次元計測が可能になります。
Terms in the title (4)：
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Research program：
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Parent Research Project：
北川パネル
Organization with control over the research：
Japan Science and Technology Agency
