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J-GLOBAL ID：202403000395849860

断層画像の解析方法、解析装置、及びコンピュータプログラム

Inventor： 尾崎 信彦 ,  玉置 将之
Applicant, Patent owner： 国立大学法人 和歌山大学
Agent (1)： 坂本 寛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2022112774
Publication number (International publication number)：2024011077
Application date： Jul. 13, 2022
Publication date： Jan. 25, 2024
Summary：

【課題】薬剤などの浸透物質の浸透状態をより適切に解析するため、断層画像における光の減衰の影響を低減する。 【解決手段】開示の断層画像の解析方法は、浸透物質が浸透する対象物を光断層撮影して得られた生体断層画像に対して、解析装置によって演算処理を行う、ことを備え、前記演算処理は、前記断層画像において、前記対象物の深さ方向における輝度の変化が閾値よりも大きい箇所を抽出することを備える。 【選択図】図1

Claim (excerpt)：

浸透物質が浸透する対象物を光断層撮影して得られた断層画像に対して、解析装置によって演算処理を行う、 ことを備え、 前記演算処理は、 前記断層画像において、前記対象物の深さ方向における輝度の変化が閾値よりも大きい箇所を抽出する ことを備える 断層画像の解析方法。

IPC (1)：

G01N 21/17

FI (1)：

G01N21/17 620

F-Term (10)：

2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059FF02 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM04 ,  2G059MM05 ,  2G059MM09

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 解析装置、センシングシステム、解析方法、及び、コンピュータプログラム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2020-030167   Applicant：国立大学法人和歌山大学