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J-GLOBAL ID：202403000862828952

解析方法、解析装置及び解析プログラム

Inventor： 久野 伸晃 ,  山田 渉 ,  中村 光貴 ,  淺井 裕介 ,  鷹取 泰司 ,  日景 隆 ,  山本 学
Applicant, Patent owner： 日本電信電話株式会社 ,  国立大学法人北海道大学
Agent (1)： 弁理士法人高田・高橋国際特許事務所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2020123952
Publication number (International publication number)：2022020451
Patent number：7436987
Application date： Jul. 20, 2020
Publication date： Feb. 01, 2022
Claim (excerpt)：

【請求項1】 コンピュータがFDTD法を用いて電磁界解析を行う解析方法において、 前記コンピュータが、 解析対象となる有限領域内から外部へ電磁界を放射させる開口部となる面領域を抽出する抽出工程と、 前記面領域に対し、電界に関する波動方程式における反射を0とする吸収面領域を設定する領域設定工程と、 ブロックごとに定められた媒質定数を記憶する記憶部が記憶している媒質定数、及び前記吸収面領域を用いてブロックごとに電磁界成分を計算する計算工程と を実行することを特徴とする解析方法。

IPC (1)：

G06F 30/23 ( 202 0.01)

FI (1)：

G06F 30/23

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 解析装置、解析方法および解析プログラム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2015-125437   Applicant：日本電信電話株式会社, 国立大学法人北海道大学
• 電磁界特性解析方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-028581   Applicant：株式会社エヌ・ティ・ティ・ドコモ

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 建物内外における電界強度分布のレイトレース解析