Pat

J-GLOBAL ID：202403002390606236

測定装置および測定方法

Inventor： 芳井 義治 ,  佐光 暁史 ,  竹村 祐輝 ,  水落 憲和
Applicant, Patent owner： スミダコーポレーション株式会社 ,  国立大学法人京都大学
Agent (1)： 青木 修
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2022121430
Publication number (International publication number)：2024018233
Application date： Jul. 29, 2022
Publication date： Feb. 08, 2024
Summary：

【課題】 被測定場の測定値におけるノイズ成分を抑制して測定精度を高くする。 【解決手段】 受光装置13は、励起光に対応して磁気共鳴部材1から発せられる蛍光を受光し蛍光強度に対応する蛍光センサー信号を生成し、演算処理装置31は、蛍光センサー信号または前記蛍光センサー信号から得られる検出信号に基づいて測定値を導出する。演算処理装置31は、被測定場が磁気共鳴部材1に印加されているときの測定値を本測定値とし、被測定場が磁気共鳴部材1に印加されていないときであって本測定値の測定前に測定された測定値を前段測定値とし、被測定場が磁気共鳴部材に印加されていないときであって本測定値の測定後に測定された測定値を後段測定値としたとき、前段測定値および後段測定値をそれぞれ所定の比率で本測定値から減算して、被測定場の測定値を導出する。 【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

被測定場に対応して電子スピン量子状態が変化するとともにマイクロ波で電子スピン量子操作の可能な磁気共鳴部材と、 前記マイクロ波で前記磁気共鳴部材の電子スピン量子操作を行う高周波磁場発生器と、 前記磁気共鳴部材に照射すべき励起光を出射する発光装置と、 前記磁気共鳴部材により前記励起光に対応して発せられる蛍光を受光し前記蛍光の強度に対応する蛍光センサー信号を生成する蛍光受光装置と、 前記蛍光センサー信号または前記蛍光センサー信号から得られる検出信号に基づいて測定値を導出する演算処理装置とを備え、 前記演算処理装置は、前記被測定場が前記磁気共鳴部材に印加されているときの前記測定値を本測定値とし、前記被測定場が前記磁気共鳴部材に印加されていないときであって前記本測定値の測定前に測定された前記測定値を前段測定値とし、前記被測定場が前記磁気共鳴部材に印加されていないときであって前記本測定値の測定後に測定された前記測定値を後段測定値としたとき、前記前段測定値および前記後段測定値をそれぞれ所定の比率で前記本測定値から減算して、前記被測定場の測定値を導出すること、 を特徴とする測定装置。

IPC (3)：

G01N 24/00 ,  G01R 33/26 ,  G01R 33/20

FI (3)：

G01N24/00 P ,  G01R33/26 ,  G01R33/20

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• センサ装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2018-022459   Applicant：国立研究開発法人産業技術総合研究所, 昭和オプトロニクス株式会社