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J-GLOBAL ID：202403004853689937

検出装置

Inventor： 小宮 研一 ,  新井 竜一 ,  小川 雄一 ,  鈴木 哲仁
Applicant, Patent owner： 東芝テック株式会社 ,  国立大学法人京都大学
Agent (7)： 弁理士法人鈴榮特許綜合事務所 ,  蔵田 昌俊 ,  野河 信久 ,  井上 正 ,  峰 隆司 ,  河野 直樹 ,  金子 早苗
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2020142618
Publication number (International publication number)：2022038232
Patent number：7489063
Application date： Aug. 26, 2020
Publication date： Mar. 10, 2022
Claim (excerpt)：

【請求項1】 サンプルから磁性体を固定された被検出物を検出する検出装置であって、 前記サンプルを添付される基板を支持する設置部と、 第1の周波数を有する照射波と前記第1の周波数と異なる第2の周波数を有する照射波を前記基板に照射する照射部と、 前記基板からの反射波又は透過波の強度を検出する検出部と、 前記第1の周波数を有する照射波の反射波又は透過波の第1の強度と前記第2の周波数を有する照射波の反射波又は透過波の第2の強度とに基づいて感度を算出し、 前記感度に基づいてエラーを出力する、 プロセッサと、を備える検出装置。

IPC (1)：

G01N 21/27 ( 200 6.01)

FI (1)：

G01N 21/27 Z