Pat

J-GLOBAL ID：202403012292767766

材料解析サーバ、材料解析サーバにおいて用いられるプログラム、および材料解析サーバにおいて用いられる方法

Inventor： 森 穂高 ,  外海 駿輔 ,  中西 由衣 ,  笠松 利恵 ,  ▲高▼橋 啓介 ,  藤間 淳 ,  春口 昂輝
Applicant, Patent owner： 株式会社デンソー ,  国立大学法人北海道大学
Agent (1)： 弁理士法人ゆうあい特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2022142916
Publication number (International publication number)：2024038692
Application date： Sep. 08, 2022
Publication date： Mar. 21, 2024
Summary：

【課題】実験結果のデータを送信する複数の送信装置と、それら複数の送信装置から送信された実験結果のデータを受信して解析を行うサーバを有するシステムにおいて、前処理の負担を軽減する。 【解決手段】複数の送信装置(2)から送信される材料に関する実験結果を示す実験データ(12a)を受信可能な材料解析サーバは、前記複数の送信装置が送信した前記実験データ(12a)を受信する受信部(13a)と、前記実験データの各々に含まれる材料に関する物理量の分布から特徴量を算出し、前処理済データ(12b)として解析のために記録する前処理部(13b)と、を備える。 【選択図】図3

Claim (excerpt)：

複数の送信装置(2)から送信される材料に関する実験結果を示す実験データ(12a)を受信可能な材料解析サーバであって、 前記複数の送信装置が送信した前記実験データ(12a)を受信する受信部(13a)と、 前記実験データの各々に含まれる材料に関する物理量の分布から特徴量を算出し、前処理済データ(12b)として解析のために記録する前処理部(13b)と、を備えた、材料解析サーバ。

IPC (1)：

G06Q 50/10

FI (1)：

G06Q50/10

F-Term (1)：

5L049CC11

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 試験評価システム、プログラムおよび試験評価方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2021-156360   Applicant：MI-6株式会社