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J-GLOBAL ID：202403019339221338

要因分析装置、要因分析方法及び要因分析プログラム

Inventor： 澤谷 雪子 ,  窪田 歩 ,  山田 明 ,  佐野 絢音
Applicant, Patent owner： KDDI株式会社
Agent (2)： 正林 真之 ,  林 一好
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2021007036
Publication number (International publication number)：2022111545
Patent number：7459006
Application date： Jan. 20, 2021
Publication date： Aug. 01, 2022
Claim (excerpt)：

【請求項1】 ユーザによる対策行動の実行を阻害又は促進する複数の要因の候補、及び当該要因の強度に関するアンケート項目を予め設定する設定部と、 前記ユーザの属性を、予め設定された属性分類ルールに基づいて決定する属性決定部と、 前記アンケート項目への回答に基づいて、前記ユーザの属性に紐付けて、前記複数の要因毎のスコアを算出するスコア算出部と、 前記属性毎に、前記複数の要因を前記スコアにより順位付けし、上位の要因を、前記対策行動を促進させるために介入すべき要因として選定する要因選定部と、を備える要因分析装置。

IPC (4)：

G06Q 50/10 ( 201 2.01) ,  G06Q 30/0203 ( 202 3.01) ,  G16Y 20/40 ( 202 0.01) ,  G16Y 40/20 ( 202 0.01)

FI (4)：

G06Q 50/10 ,  G06Q 30/020 ,  G16Y 20/40 ,  G16Y 40/20